1億回のX線照射、このデータを見て私はぞっとした

アメリカジョージア工科大学は、新型の鉄電NANDフラッシュメモリを研究開発しました。これは、シリコンプロセスと互換性のある酸化ハフ材料を採用し、自発的な極性を持ち、反転可能な鉄電特性を備えています。このフラッシュメモリはAIタスク処理能力が高く、放射線耐性は従来のフラッシュメモリの30倍であり、テストでは最大100万ラッドに耐えることができ、これは1億回のX線照射に相当します。論文はナノレポートに掲載されており、情報記憶、センサー、AI、低消費電力チップの分野での応用可能性を示しています。