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2026-07-05 08:20:56
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英特爾押注「1.4nm架構變體」…正面與背面供電技術雙管齊下
整合元件製造商(IDM)英特爾據傳內部正在評估一種同時利用正面與背面供電的架構,以在1.4nm等級的超精細節點上追趕競爭對手。業界消息指出,英特爾原先計畫在1.4nm基礎製程14A上僅採用背面供電(BSPDN)技術「PowerDirect」。然而,對於後續的14A2製程,據稱正在評估引入同時使用正面與背面的「雙面」架構。這項結構變化直接與微影極限(隨機缺陷)有關,因為英特爾追求的底層金屬互連(M0)間距已縮小至約21nm。
英特爾已正式宣布計畫將晶片密度提升至現有18A的1.3倍,以追上台積電的N2/A14與三星的SF2Z。14A製程的M0間距目標約為28nm,但透過半節點式改良,14A2的M0間距預計將推至21nm。在此情況下,即使進行兩次微影(雙重曝光),整體密度增益仍然足夠大,使得每台價格數百億韓元的High NA EUV機台經濟效益反而提升。
問題在於,一旦電路線寬縮至21nm或更低,互連電阻會呈指數級上升。原本為背面供電打造的奈米矽穿孔(nTSV)基礎設施,無法獨力承載電晶體所需的電流密度,導致電壓急遽下降的「IR壓降」現象。因此,分析指出英特爾採用了一種混合結構:保留背面供電網路作為主要路徑,同時將部分正面金屬互連重新分配給輔助電源與時脈訊號,以確保因微縮與微影極限而不足的電源餘裕。儘管這會增加互連複雜度,但此舉被解讀為一種「妥協產物」,是為了擠出21nm製程規格而進行的架構逆向調整。
英特爾時間緊迫。依照其路線圖,14A預計於2028年進入風險生產,2029年量產。為此,英特爾計畫於今年10月向外部客戶提供14A製程設計套件(PDK)0.9版,並面臨在未來18個月內鎖定主要無晶圓廠客戶訂單的任務。相較之下,競爭對手台積電已在2025至2026年間確保其2nm(N2)製程的穩定良率,並配合最大客戶蘋果的產品上市時程完成市場導入。此外,當英特爾在2028年開始14A風險生產時,台積電預計已將真正的1.4nm(A14)成品推向市場。三星電子同樣計畫在2027年將採用背面供電的增強型2nm製程「SF2Z」商業化。三星最大的武器是自3nm節點首次採用環繞閘極(GAA)電晶體結構以來所累積的熟練度。
業界人士解釋:「英特爾因為在20A/18A首次同時導入GAA與BSPDN,導致良率難以確保;而三星僅是在已驗證的2nm GAA結構上疊加背面供電(BSPDN),技術風險遠低得多。」
$INTC
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英特爾押注「1.4nm架構變體」…正面與背面供電技術雙管齊下
整合元件製造商(IDM)英特爾據傳內部正在評估一種同時利用正面與背面供電的架構,以在1.4nm等級的超精細節點上追趕競爭對手。業界消息指出,英特爾原先計畫在1.4nm基礎製程14A上僅採用背面供電(BSPDN)技術「PowerDirect」。然而,對於後續的14A2製程,據稱正在評估引入同時使用正面與背面的「雙面」架構。這項結構變化直接與微影極限(隨機缺陷)有關,因為英特爾追求的底層金屬互連(M0)間距已縮小至約21nm。
英特爾已正式宣布計畫將晶片密度提升至現有18A的1.3倍,以追上台積電的N2/A14與三星的SF2Z。14A製程的M0間距目標約為28nm,但透過半節點式改良,14A2的M0間距預計將推至21nm。在此情況下,即使進行兩次微影(雙重曝光),整體密度增益仍然足夠大,使得每台價格數百億韓元的High NA EUV機台經濟效益反而提升。
問題在於,一旦電路線寬縮至21nm或更低,互連電阻會呈指數級上升。原本為背面供電打造的奈米矽穿孔(nTSV)基礎設施,無法獨力承載電晶體所需的電流密度,導致電壓急遽下降的「IR壓降」現象。因此,分析指出英特爾採用了一種混合結構:保留背面供電網路作為主要路徑,同時將部分正面金屬互連重新分配給輔助電源與時脈訊號,以確保因微縮與微影極限而不足的電源餘裕。儘管這會增加互連複雜度,但此舉被解讀為一種「妥協產物」,是為了擠出21nm製程規格而進行的架構逆向調整。
英特爾時間緊迫。依照其路線圖,14A預計於2028年進入風險生產,2029年量產。為此,英特爾計畫於今年10月向外部客戶提供14A製程設計套件(PDK)0.9版,並面臨在未來18個月內鎖定主要無晶圓廠客戶訂單的任務。相較之下,競爭對手台積電已在2025至2026年間確保其2nm(N2)製程的穩定良率,並配合最大客戶蘋果的產品上市時程完成市場導入。此外,當英特爾在2028年開始14A風險生產時,台積電預計已將真正的1.4nm(A14)成品推向市場。三星電子同樣計畫在2027年將採用背面供電的增強型2nm製程「SF2Z」商業化。三星最大的武器是自3nm節點首次採用環繞閘極(GAA)電晶體結構以來所累積的熟練度。
業界人士解釋:「英特爾因為在20A/18A首次同時導入GAA與BSPDN,導致良率難以確保;而三星僅是在已驗證的2nm GAA結構上疊加背面供電(BSPDN),技術風險遠低得多。」
$INTC